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一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统和方法

摘要

本发明公开了一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,包括上位机、数据采集装置、X射线高压发生器、总线、总线接口和基于labview软件建立的控制模块;上位机通过总线接口分别与数据采集装置和X射线高压发生器电连接;X射线高压发生器通过总线接口与数据采集装置电连接;上位机通过控制模块向数据采集装置和X射线高压发生器输出控制信号;X射线高压发生器接收控制信号,并根据控制信号产生自动化曝光动作;上位机通过控制模块对测试数据进行处理和分析得出测试结果。有益效果在于:本发明基于Labview软件实现X射线高压发生器自动化曝光测试,测试系统简单、便携、减少了测试人员的重复劳动,提高了测试的效率和准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN112006709A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市安健科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202010999555.7

  • 申请日2020-09-22

  • 分类号A61B6/00(20060101);

  • 代理机构44323 广东前海律师事务所;

  • 代理人李雪

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区朗山路华瀚创新园办公楼A座408室

  • 入库时间 2023-06-19 09:06:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):A61B 6/00 专利申请号:2020109995557 申请公布日:20201201

    发明专利申请公布后的驳回

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