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公开/公告号CN111751834A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-09
原文格式PDF
申请/专利权人 重庆大学;
申请/专利号CN202010622318.9
发明设计人 邵斌;张伟;刘浩;张梅;陈伟民;
申请日2020-06-30
分类号G01S17/08(20060101);
代理机构11275 北京同恒源知识产权代理有限公司;
代理人赵荣之
地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
入库时间 2023-06-19 08:30:12
机译: 干涉仪光学器件的光学元件的处理方法,涉及基于干涉测量和干涉仪光学器件的特性确定光学元件的光学表面与目标形状的偏差。
机译: 利用光学干涉的光学纤维成像装置,基于图像的样本位置跟踪装置,利用光学干涉的光学纤维成像方法,基于图像的样本位置跟踪方法以及记录介质
机译: 具有延迟线性调频信号的干涉测距方法及其装置
机译:基于梳状谱和调频连续波干涉仪的PC控制非增量测距仪
机译:基于该方法的具有微结构折射光学元件的电子散斑干涉仪和紧凑型干涉仪
机译:通过使用单张照片确定具有周期性结构的表面的空间位置的光学方法:II。基于干涉原理并提供可控制的测量灵敏度的相干光学方法
机译:基于梳状光谱和调频连续波干涉仪的PC控制非增量测距仪
机译:通过光学干涉,数字图像相关和有限元方法研究高级颗粒复合材料的混合模式动态断裂。
机译:基于无标签的干涉式光学检测方法来评估干扰素γ(IFN-γ)的护理点:与ELISA技术的相关性
机译:基于动态干涉仪的颗粒光学分离
机译:使用光纤作为偏振无关干涉相位检测器的单频激光干涉仪