一种陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座

摘要

本发明涉及一种陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座，包括底座；设置在所述底座上的转接支架；转接支架的上方从下至上依次设有托块、一体式测试片、主体和限位盖板；主体内嵌设有陶瓷定位组件，用于对芯片进行限位；陶瓷定位组件内设有芯片；限位盖板内设有用于容纳芯片通过的通孔；本发明的陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座，测试片的针尖采用钨钢焊接以及测试片一体式对称设计，增强了测试片的针尖与芯片管脚的接触，同时芯片通过第一陶瓷限位块和第二陶瓷限位块形成的四个直角定位及陶瓷顶针的辅助保证接触精度，使其达到理想的接触及测试效果，提高了接触的可靠性和使用寿命，节省了维修维护更换时间成本，测试稳定且测试良率高，提高了生产效率的同时降低了成本。