基于嵌入式技术的半导体分立器件测试系统的开发

摘要

本论文介绍了基于32位嵌入式处理器MCF5272，在嵌入式操作系统μClinx平台下，进行的半导体分立器件测试系统的软硬件开发工作。 首先，介绍了当前嵌入式系统的发展状况、选用32位嵌入式处理器开发半导体分立器件测试系统的优势、以及嵌入式操作系统特别是μClinux的功能特点，总结了在32位处理器开发中应用嵌入式操作系统的优越性。分析了嵌入式系统开发调试过程中常用的两种方式，即串口调试和JTAG仿真器调试，重点介绍了运用串口调试方式在μClinux平台下的软件开发模式。 接着，介绍了半导体分立器件测试主机的功能结构。详细介绍了使用可编程逻辑器件，将32位处理器高速总线时序转换成适合测试设备总线宽度、相对低速的总线时序的软硬件实现方法。介绍了测试系统±800V电压的产生原理、实现方法及其电路设计特点等，以及nA级微弱漏电流的测试方法与硬件电路设计特点。 最后，介绍了分立器件测试系统下位机功能软件的设计，包括μClinux环境下的串口通信软件设计，上下位机底层控制协议的制订和实现，以及数据存储中出现的字节对齐和字节排序问题的解决。并且介绍了μClinux环境下在Flash存储器上实现文件动态存储的方法，以及测试系统底层控制函数的封装。

目录

文摘

英文文摘

东南大学学位论文独创性声明及使用授权声明

第一章绪论

第二章嵌入式系统硬件技术的发展介绍

第三章嵌入式操作系统介绍

笫四章嵌入式系统开发调试模式

第五章分立器件测试系统的硬件设计

第六章分立器件测试系统的软件设计

第七章全文总结

参考文献

致谢

攻读硕士学位期间发表的论文

攻读硕士学位期间参加的科研项目