基于TestPoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统

摘要

Testpoint是一种事件驱动开发平台.在Testpoint下,测试所要求的时序性和循环性能够得到很好的保证.结合GPIB通用接口技术和串行接口技术,用装有接口卡的计算机担任系统的控者,在Testpoint平台下解决了具有广泛意义的并口和串口仪器的程控问题.探讨了Testpoint平台下自动测试系统的实现方法和应用程序的开发方法,设计了半导体特性综合测试系统并完成了对样品的I-V、I-V特性的综合测试.通过Testpoint,完成了测量数据的存储、处理、显示、输出和打印等操作.在实际应用中,达到了改善测试质量和测试速度的目的.