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基于频分复用的物质太赫兹波谱分析装置及分析测试方法

摘要

本发明提供一种基于频分复用的物质太赫兹波谱分析装置及分析测试方法,属于物质太赫兹波谱分析技术领域,频分复用微波信号激励太赫兹收发模块发射太赫兹信号,并接收反射太赫兹波信号发送给计算模块;第一传输控制模块对太赫兹信号进行波束整形;第二传输控制模块对透射太赫兹波信号进行分波定向传输;频分复用本振信号激励太赫兹波探测模块探测透射太赫兹波信号发送给计算模块;计算模块对反射太赫兹波信号和透射太赫兹信号进行计算处理,得到待测物质的太赫兹波谱。本发明提升了太赫兹波谱分辨率,提高了太赫兹信号输出功率,扩大了输出功率范围;实现了透射太赫兹波谱与反射太赫兹波谱的同步采集;实现了全电子学的高分辨率太赫兹波谱分析。

著录项

  • 公开/公告号CN111982854A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中电科仪器仪表有限公司;

    申请/专利号CN202010877068.3

  • 申请日2020-08-27

  • 分类号G01N21/3581(20140101);

  • 代理机构37221 济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人朱忠范

  • 地址 266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 08:04:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-13

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N21/3581 专利申请号:2020108770683 变更事项:申请人 变更前:中电科仪器仪表有限公司 变更后:中电科思仪科技股份有限公司 变更事项:地址 变更前:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号 变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号

    著录事项变更

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