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涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置及检测方法

摘要

本发明提供了一种金属基带表面缺陷动态监测装置及检测方法,主要解决现有装置和方法只能通过单个的点测试来描述长带且仅采用灰度检测不能对产品进行等级分类的技术问题。本发明动态监测装置,包括生产线绕带装置,在金属基带上方设有上表面检测桥架及照明装置,在金属基带下方设有下表面检测桥架及照明装置,生产线绕带装置、上表面检测桥架及照明装置、下表面检测桥架及照明装置分别将生产信号和图像及控制信号通过线缆传送给计算机系统,计算机系统在线分析产品表面图像的各种特征,实现对表面缺陷的定位、检测、测量,然后将数据通过网络传送给报警监控计算机,输出各种即时和延迟信号。

著录项

  • 公开/公告号CN111982919A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海上创超导科技有限公司;

    申请/专利号CN202010861680.1

  • 申请日2020-08-25

  • 分类号G01N21/88(20060101);

  • 代理机构31113 上海浦东良风专利代理有限责任公司;

  • 代理人张劲风

  • 地址 201400 上海市奉贤区望园路2066弄4号楼

  • 入库时间 2023-06-19 08:04:59

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