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随机存取记忆体单元及电阻式随机存取记忆体单元的操作方法

摘要

在部分实施方式中,本揭露涉及一种随机存取记忆体单元及电阻式随机存取记忆体单元的操作方法。操作电阻式随机存取记忆体(RRAM)单元的方法包含对RRAM单元进行重置操作。对RRAM单元施加第一电压偏压。第一电压偏压具有第一极性。第一电压偏压的施加诱使RRAM单元从低电阻变为中电阻。中电阻大于低电阻。然后,对RRAM单元施加第二电压偏压施。第二电压偏压具有与第一极性相反的第二极性。第二电压偏压的施加诱使RRAM单元具有高电阻。高电阻大于中电阻。

著录项

  • 公开/公告号CN111986720A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN202010090393.5

  • 发明设计人 陈朝阳;吴承润;蔡竣扬;黄国钦;

    申请日2020-02-13

  • 分类号G11C11/56(20060101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国

  • 地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号

  • 入库时间 2023-06-19 08:04:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-18

    授权

    发明专利权授予

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