基于光谱估计与电子分光技术的光学元件表面疵病检测方法

摘要

一种基于光谱估计与电子分光技术的光学元件表面疵病的检测方法，本发明通过光谱估计与电子分光技术获取疵病图像的单波长分光图像以及彩色分光图像，并对疵病分光图像进行优化处理并自动筛选最佳分光图像。相较于现有技术，本发明解决了现有技术白光照明时不同波长的相互叠加导致的疵病信息被掩盖的问题，通过利用光谱技术选择合适的检测波长识别疵病，解决了物理分光的成本和效率问题，提高了疵病检测的效率和精度、降低了疵病检测成本。