法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-05-05
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20180510
实质审查的生效
2018-11-23
公开
公开
机译: 具有垂直晶体管的半导体器件的制造方法,该垂直晶体管具有在第一有源柱上方形成的第二有源柱
机译: 半导体器件的制造例如垂直晶体管包括在衬底中形成沟道离子注入区和在衬底中形成与柱相对应的第二导电类型的源/漏杂质离子区
机译: 形成垂直沟槽晶体管的方法(在垂直传输晶体管DRAM单元的设计中,用于使器件小型化的自对准漏极/沟道结)