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一种基于欠定盲源分离的模拟电路早期故障特征提取方法

摘要

本发明公开了一种基于欠定盲源分离的模拟电路早期故障特征提取方法,具体步骤如下:(1)针对不同测试电路选择不同的测试节点,并输入相应的测试激励,采集电路测试点信号构成观察信号矩阵X(t);(2)利用短时傅里叶变换将时域的观察信号X(t)转换为时频域信号;(3)在时频域中,通过模糊C均值聚类算法估计出混合矩阵A;(4)利用步骤三得到的混合矩阵A,通过加权最小L1范数法得到源信号在时频域的估计值,再将其转换到时域,得到恢复的源信号S(t);(5)针对步骤四所得的源信号S(t)计算其中每一个源信号的峭度,构成特征向量。本发明可以有效、准确地提取模拟电路早期故障的特征,提高早期故障特征的可辨识度,对后续电路故障诊断具有十分重要的作用。

著录项

  • 公开/公告号CN108776801A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201810343076.2

  • 发明设计人 屈剑锋;蔡世豪;郑远;胡英杰;

    申请日2018-04-17

  • 分类号G06K9/62(20060101);G01R31/316(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2023-06-19 07:06:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20180417

    实质审查的生效

  • 2018-11-09

    公开

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