一种薄膜低阻及薄膜低阻L型调阻方法

摘要

一种薄膜低阻及薄膜低阻L型调阻方法，涉及电子产品技术领域。其步骤包括：步骤S1，在第一侧端靠近第一端面电极的位置处切割出直线式的电阻精调式口，电阻精调式口的延伸方向与第一侧端平行，并与第一端面电极的垂直间距为0.2mm～0.4mm；步骤S2，在第二侧端靠近第二端面电极的位置处切割出L型的电阻粗调式口，电阻粗调式口具有连通的横向调节口和竖向调节口，横向调节口的延伸方向与第二侧端平行，竖向调节口的延伸方向与第二侧端垂直，竖向调节口沿着远离第二侧端的方向延伸，横向调节口与第二端面电极的垂直间距为0.2mm～0.4mm；步骤S3，在电阻精调式口和电阻粗调式口的位置处对薄膜低阻进行调试。采用该方法制得的薄膜低阻，散热能力强。