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OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法

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本发明提供一种OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法。该OLED器件量测系统通过在检测器(3)外部设置与检测器(3)内的目镜相连接的目镜筒(5)及将相机(7)固定在所述目镜筒(5)上，能够使得所述相机(7)与目镜的取景对象相同，从而确保检测器(3)的中轴线与相机(7)的中轴线均垂直于OLED器件样品(9)，避免OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)与量测光斑(FA)的中心点(O3)发生偏移。该自动定位OLED器件量测点位的方法，使用上述OLED器件量测系统，能够准确地将OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)定位到量测光斑(FA)的中心点(O3)。

著录项

公开/公告号CN108593264A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-09-28

原文格式PDF
申请/专利权人武汉华星光电技术有限公司;
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申请/专利号CN201810395279.6
发明设计人韩文;马荣;
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申请日2018-04-27
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构44265 深圳市德力知识产权代理事务所;
代理人林才桂;李雯雯
地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
入库时间 2023-06-19 06:40:10

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-10-26

实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20180427

实质审查的生效
2018-09-28

公开

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