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具有轻掺杂漏结构的Z型异质结隧穿场效应晶体管及其制备方法

摘要

本发明公开了一种具有轻掺杂漏结构的Z型异质结隧穿场效应晶体管及其制备方法,主要解决现有器件开态电流低和双极效应严重的问题,其包括:SOI衬底(1)、隔离槽(2)、源区(3)、沟道区(4)、漏区(6)、栅区(5)及导电层(7);隔离槽(2)位于SOI衬底(1)的两侧;源区(3)、沟道区(4)和漏区(6)位于SOI衬底的上表面;栅区(5)位于沟道区(4)的上侧;源区(3),采用锗半导体材料;栅区(5),采用Z型结构,且采用长度为3nm~9nm的栅覆盖在源区上;漏区(6)在靠近栅区(5)的一侧设有轻掺杂漏区。本发明能有效抑制双极效应,提高了驱动电流,可用于大规模集成电路的制作。

著录项

  • 公开/公告号CN108493240A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810398867.5

  • 申请日2018-04-28

  • 分类号H01L29/739(20060101);H01L29/165(20060101);H01L29/423(20060101);H01L29/08(20060101);H01L21/331(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 06:25:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/739 申请日:20180428

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

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