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一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置

摘要

本发明属于光学探测领域,特别涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置。首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上;然后将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置;再将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹;再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩;最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题,实现一种宽谱段,高精度,高信噪比的视向速度探测方案。

著录项

  • 公开/公告号CN108507679A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810214246.7

  • 申请日2018-03-15

  • 分类号

  • 代理机构西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人汪海艳

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

  • 入库时间 2023-06-19 06:25:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/45 申请日:20180315

    实质审查的生效

  • 2018-09-07

    公开

    公开

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