首页> 外国专利> device for measuring high resistance widerstaenden and weak stroemen and, in particular, the check of photocells

device for measuring high resistance widerstaenden and weak stroemen and, in particular, the check of photocells

机译:用于测量高电阻,宽谱段和弱弹道的设备,尤其是光电池的检查

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000000720647A

    专利类型

  • 公开/公告日1942-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HANS RICHTER DR;

    申请/专利号DER0105194D

  • 发明设计人 RICHTER DR HANS;

    申请日1939-05-11

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 04:07:11

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号