一种多光子显微镜中轴向色差的自参考测量装置

摘要

本发明适用于光电技术领域，提供了一种自参考测量装置，包括：激发单元，用于产生预置波长的泵浦光并射入第一光路调整单元；第一光路调整单元，用于对泵浦光进行偏振态调整并射入孤子产生单元；孤子产生单元，用于根据泵浦光产生激光脉冲并射入第二光路调整单元；第二光路调整单元，用于对激光脉冲进行处理并射入多光子显微镜单元；多光子显微镜单元，用于根据对样品进行成像进行轴向色差的测量，并将谐波信号发送给信号收集单元进行收集。本发明实施例不需要机械位移平台一直重复扫描，从而消除了单色激发光重复扫描时由位移平台引入的机械误差。