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AlGaN/GaN HEMT器件欧姆接触电极的制备方法

摘要

本发明公开了AlGaN/GaN HEMT器件欧姆接触电极的制备方法,包括以下步骤:(1)利用光刻技术,AlGaN/GaN异质结外延片表面制备出源漏欧姆接触窗口;(2)采用ICP刻蚀的方法,对欧姆接触区域进行干法刻蚀,完全去除AlGaN层,并刻蚀至GaN沟道层往下5~20nm处;(3)在源漏区域依次沉积金属Al层、金属Ti层、金属Au层;(4)去胶剥离后,于600~750℃进行合金退火处理,形成欧姆接触电极。相比于传统欧姆接触电极金属体系,本发明的欧姆接触电极合金温度下降了200℃左右,降低了工艺难度,合金后的欧姆接触表面形貌更加平整。

著录项

  • 公开/公告号CN108364864A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201810175259.8

  • 发明设计人 李国强;陈丁波;刘智崑;万利军;

    申请日2018-03-02

  • 分类号

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈文姬

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 06:30:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/28 申请日:20180302

    实质审查的生效

  • 2018-08-03

    公开

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