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激光辐照TDI-CCD的饱和串扰及侧斑建模仿真方法

摘要

本发明公开了一种激光辐照TDI‑CCD的饱和串扰及侧斑建模仿真方法,主要解决现有技术在视场外远距离入射情况下适应性差的问题。其实现方案是:根据TDI‑CCD成像系统的信号转换特性,建立相机光学系统基本模型,在该基本模型加入侧斑效应,得到视场外激光入射模型,并用该视场外激光入射模型对干扰下的目标区域推扫成像,建立激光干扰TDI‑CCD相机的饱和串扰效应全链路模型;在该全链路模型中调整入射激光参数,获得不同激光入射条件下的仿真输出结果。本发明能方便的研究不同激光参数及相机参数下的饱和及串扰现象,为激光干扰TDI‑CCD相机的应用提供了支撑,可用于对空天基干扰激光器的研发设计。

著录项

  • 公开/公告号CN108269252A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810010354.2

  • 发明设计人 王晓蕊;袁航;郭兵涛;李珂;张超;

    申请日2018-01-05

  • 分类号

  • 代理机构陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 05:55:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20180105

    实质审查的生效

  • 2018-07-10

    公开

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