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一种用于透明基底薄膜表界面力学特性测量的实验装置

摘要

一种用于透明基底薄膜表界面力学特性测量的实验装置,设置在中空式微位移单元上的用于加载被测薄膜的水平加载单元,位于水平加载单元上方的微悬臂梁测试单元,位于中空式微位移单元的下方用于采集图像数据的显微干涉测试单元,信号处理单元分别与微悬臂梁测试单元、水平加载单元、中空式微位移单元和显微干涉测试单元的信号输入输出端相连,用于对微悬臂梁测试单元的弹性系数进行标定和采集存储微悬臂梁测试单元的测试数据,控制水平加载单元对被测薄膜施加载荷,控制中空式微位移单元的移动使显微干涉测试单元能够在光学图像中选择合适的脱粘区域,并采集显微干涉测试单元获取的数据。本发明能够更精确地计算出界面能量释放率等薄膜与基底粘附特性信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108287220A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201810028503.8

  • 申请日2018-01-11

  • 分类号G01N33/00(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人杜文茹

  • 地址 300192 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-06-19 05:55:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N33/00 申请日:20180111

    实质审查的生效

  • 2018-07-17

    公开

    公开

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