基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法

摘要

本发明属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built‑in self‑test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。