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多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置

摘要

本发明公开了一种多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置,包括:若干测试筒,测试筒呈两端贯通内部的中空结构,被测电子元器件在测试筒内进行测试;底座,每个测试圆筒的下端固定于底座上,且底座还设有用于与被测电子元器件进行连接的接线端子组;控温组件,控温组件包括上盖、连杆及控温元件,上盖盖设于测试筒的上端,控温元件设于连杆下端端面上,且连杆的上端凸设于上盖上,连杆下端可穿过上盖并进入测试筒,控温元件位于被测电子元器件上方处,连杆可相对上盖上升或者下降,控温元件可对测试筒内温度进行控制。本发明是一种成本低廉、精确调整测试温度的多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置。

著录项

  • 公开/公告号CN108037064A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华测检测认证集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201711435628.4

  • 发明设计人 董宁;陈益思;黄庆;

    申请日2017-12-26

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋

  • 入库时间 2023-06-19 05:18:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N17/00 申请日:20171226

    实质审查的生效

  • 2018-05-15

    公开

    公开

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