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用于集成电路监视和防止电迁移失效的方法和装置

摘要

公开了一种装置。该装置包括电路,互连该电路的一部分的导体以及处理器,该处理器被配置为确定该导体的温度并且响应于所确定的温度升高到阈值以上,来调整与该导体相关的至少一个参数。该至少一个参数包括对该导体的寿命估计。公开了一种操作包括电路和互连该电路的一部分的导体的装置的方法。该方法包括确定导体的温度以及响应于所确定的温度升高到阈值以上,来调整与该导体相关的至少一个参数。参数包括对该导体的寿命估计。

著录项

  • 公开/公告号CN107771289A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高通股份有限公司;

    申请/专利号CN201680033268.2

  • 发明设计人 R·钱德拉;M·罗杉德尔;N·莫江德;

    申请日2016-06-10

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陈炜;袁逸

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 04:44:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20160610

    实质审查的生效

  • 2018-03-06

    公开

    公开

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