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一种IGBT硅片背面退火方法及激光退火系统

摘要

本发明提出一种IGBT硅片背面退火方法及激光退火系统,该方法包括下列步骤:完成IGBT硅片的正面工艺;对所述硅片背面进行减薄工艺,将其研磨至所需厚度;对所述硅片进行离子注入;对所述硅片背面进行退火处理;对所述硅片背面进行金属化处理。本发明提出的IGBT硅片背面退火方法及激光退火系统,适应IGBT背面退火工艺研发节点,推出不同激光器组合加预热功能,用以满足特定IGBT背面多层次退火工艺需求,提供了一套激光退火系统化解决方案,替代高功率准分子激光器退火和质子辐照+低温炉管退火工艺,实现不同结深客户定制化需求。

著录项

  • 公开/公告号CN107452619A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;

    申请/专利号CN201610378219.4

  • 发明设计人 周炯;

    申请日2016-05-31

  • 分类号H01L21/324(20060101);H01L29/739(20060101);H01L21/67(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅;李时云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号

  • 入库时间 2023-06-19 03:59:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/324 申请日:20160531

    实质审查的生效

  • 2017-12-08

    公开

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