公开/公告号CN107452619A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-12-08
原文格式PDF
申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;
申请/专利号CN201610378219.4
发明设计人 周炯;
申请日2016-05-31
分类号H01L21/324(20060101);H01L29/739(20060101);H01L21/67(20060101);
代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人屈蘅;李时云
地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号
入库时间 2023-06-19 03:59:41
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-01-05
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/324 申请日:20160531
实质审查的生效
2017-12-08
公开
公开
机译: 激光退火去除晶圆背面缺陷的方法
机译: 通过溅射金属沉积,金属离子注入或硅注入和激光退火为CMOS设备生产双门(一种金属和一种多金属或金属硅化物)的方法
机译: 使用溅射金属沉积,金属离子注入或硅注入以及激光退火为CMOS器件生产双栅极(一种金属和一种多晶硅或金属硅化物)的方法