半导体装置、电子控制系统和评估电子控制系统的方法

摘要

本发明涉及一种半导体装置、电子控制系统和评估电子控制系统的方法。为了在不向逻辑电路添加新电路的情况下在逻辑电路中生成虚假故障，半导体装置包括多个测试点，其包括测试点触发器，以当触发器保持预定值时将逻辑电路内的目标节点固定到预定逻辑电平。通过顺序耦合多个测试点触发器来配置扫描链。在逻辑电路的正常操作期间，故障注入电路通过生成故障数据并将所生成的故障数据通过扫描链的扫入节点设定到扫描链，将故障注入目标节点。