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一种基于高掺锗光纤探头的磁场和温度同时测量装置

摘要

本发明公开了一种基于高掺锗光纤探头的磁场和温度同时测量装置由宽带光源,入射光纤,高掺锗光纤,出射光纤,光纤光谱仪,高掺锗光纤光栅,锥区,磁流体,石英毛细管,UV胶,磁场发生器和温度控制箱组成。创新地将极短长度的高掺锗光纤熔接在单模光纤之间,并在高掺锗光纤上直接刻写光纤光栅,进一步对该结构进行化学腐蚀增敏,利用M‑Z干涉光谱与光纤光栅对磁场和温度不同的响应直接实现了双参数的同时测量。高掺锗光纤刻写光纤光栅不需要载氢和退火,简化了制作工艺,热敏感性也比石英光纤高,这大幅缩减了探头体积。因此,该发明具有体积小巧,灵敏度高,灵活性强和制作便捷的突出优点,是一种较优的分布式磁场测量设计方案。

著录项

  • 公开/公告号CN107449471A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201710903131.4

  • 发明设计人 包立峰;董新永;

    申请日2017-09-29

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号中国计量大学

  • 入库时间 2023-06-19 03:58:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D21/02 申请日:20170929

    实质审查的生效

  • 2017-12-08

    公开

    公开

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