首页> 中国专利> 一种提高磁控溅射镀膜过程中平面靶利用率的方法

一种提高磁控溅射镀膜过程中平面靶利用率的方法

摘要

本发明涉及一种提高磁控溅射镀膜过程中平面靶利用率的方法,其中,所述磁控溅射镀膜设备至少包括平面靶以及设于所述平面靶同一侧的一对互为NS极的磁体组,所述磁体组包括第一磁体和第二磁体,所述第一磁体具有面向所述平面靶的N极磁极面,所述平面靶位于所述磁体组形成的磁场区域内,所述第一磁体的所述N极磁极面和所述第二磁体的所述S极磁极面分别朝向所述第一面的中部倾斜,本发明通过改变磁体组相对于平面靶的排列结构,从而改变磁场分布,使磁场经过平面靶使用区域的磁感应强度增强,溅射区域电子活跃度提高,大量电子运动区域增加,刻蚀区域增大,从而平面靶利用率相较现有技术大大提高,降低了平面靶使用成本。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C23C14/35 申请公布日:20171128 申请日:20170814

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-12-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/35 申请日:20170814

    实质审查的生效

  • 2017-11-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号