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用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应

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在此公开用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应。系统和方法(800)采用异或门(110)，具有：第一输入端，其配置为接收具有RF载波频率的RF载波信号(15)；第二输入端，其配置为接收具有方波频率的方波信号(25)；输出端，其配置为向待测试的信号处理通道(120)输出包括方波信号(25)调制的RF载波信号(15)的二进制相移键控(BPSK)信号。数字信号处理器(130)配置为从信号处理通道(120)接收信号处理通道(120)响应于BPSK信号(115)产生的同相(I)和正交相(Q)数据，并且处理I和Q数据，以确定作为频率函数的信号处理通道(120)的幅值响应(510)和相位响应(520)。

著录项

公开/公告号CN107340427A

专利类型发明专利
公开/公告日2017-11-10

原文格式PDF
申请/专利权人是德科技股份有限公司;
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申请/专利号CN201710058343.7
发明设计人 E·M·巴里什;
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申请日2017-01-23
分类号G01R23/10(20060101);G01R23/165(20060101);
代理机构11494 北京坤瑞律师事务所;
代理人封新琴
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2023-06-19 03:44:20

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-05-28

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R23/10 申请日:20170123

实质审查的生效
2017-11-10

公开

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1. 用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应 [P] . 中国专利： CN107340427B . 2021.05.04
2. 用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应 [P] . 中国专利： CN107340427A . 2017-11-10
3. MEASURING AMPLITUDE AND PHASE RESPONSE OF MEASUREMENT INSTRUMENT WITH BINARY PHASE SHIFT KEYING TEST SIGNAL [P] . 美国专利： US2017317792A1 . 2017-11-02

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