首页> 中国专利> 一种基于滤布缺陷破损检测方法、电子设备及存储介质

一种基于滤布缺陷破损检测方法、电子设备及存储介质

摘要

本发明公开了一种基于滤布缺陷破损检测方法,包括以下步骤:图像纹理提取步骤:对滤布的图像纹理特征进行提取,并形成数据库;分析判断步骤:采用SVM二分类器检测模型法对数据库内的图像纹理特征进行分析,并判滤布中的断图像纹理特征区是否为缺陷破损区。本发明还公开了一种电子设备和计算机可读存储介质。本发明解决解决现有技术中对滤布破损缺陷进行检测,存在滤布破损缺陷检测辨识能力低的问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20170613

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号