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模块并入前进行天线效应检查的方法

摘要

本发明提供一种模块并入前进行天线效应检查的方法,能够至少将所述引脚以及引脚所连接的金属层和栅极层抽取出来,生成一个能够被客户的布局布线工具读取的、含有天线效应信息的格式文件,提供给客户,客户即使不用PR工具进行自动布局布线,也能进行模块并入前的天线效应检查,既避免了IP模块版图文件直接发给客户而造成的泄密,也方便了客户在代工厂进行模块并入之前完成天线效应检查,提前发现代工厂模块并入合成完整数据后的天线效应问题。

著录项

  • 公开/公告号CN107122567A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201710369460.5

  • 发明设计人 曹云;

    申请日2017-05-23

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-06-19 03:16:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20170523

    实质审查的生效

  • 2017-09-01

    公开

    公开

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