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薄膜应力测试装置和薄膜应力测试方法

摘要

本发明提供了一种薄膜应力测试装置,包括激光发射模组、激光接收模组和测试平台。所述激光发射模组包括设置于所述测试平台的激光器、分束元件。所述激光接收模组包括设置于所述测试平台图像处理设备。所述测试平台上设置有待测样品。所述激光器发射的激光经所述分束元件后被分成二维激光阵列,所述二维激光阵列投射至所述待测样品,经过所述待测样品反射被所述图像处理设备接收。所述薄膜应力测试装置能够快速测量大面积衬底的薄膜应力。本发明还进一步提供一种薄膜应力测试装置的薄膜应力测试方法。

著录项

  • 公开/公告号CN107144383A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201710154499.5

  • 发明设计人 张建华;洪正;殷录桥;

    申请日2017-03-15

  • 分类号G01L5/00(20060101);

  • 代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人吴平

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 03:12:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L5/00 申请日:20170315

    实质审查的生效

  • 2017-09-08

    公开

    公开

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