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使用N沟道和P沟道氮化镓晶体管的CMOS电路

摘要

CMOS电路可以使用p沟道氮化镓晶体管和n沟道氮化镓晶体管来形成,其中,p沟道氮化镓晶体管和n沟道氮化镓晶体管两者都形成在单个分层结构上,该单个分层结构包括沉积在第一氮化镓层上的极化层和沉积在极化层上的第二氮化镓层。在同一层结构上具有n沟道氮化镓晶体管和p沟道氮化镓晶体管两者可以实现电路包括从低电源电压跨越到高电源电压的逻辑、数字、和模拟电路的“全氮化镓晶体管”的实施方式。

著录项

  • 公开/公告号CN107078098A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201480082938.0

  • 申请日2014-11-18

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人韩宏

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-06-19 03:07:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/8238 申请日:20141118

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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