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厚度测量的校正方法及厚度测量方法

摘要

一种厚度测量的校正方法及厚度测量方法。固定第一能量吸收物质的厚度(t

著录项

  • 公开/公告号CN102162725B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德律科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201010234550.1

  • 发明设计人 彭明辉;

    申请日2010-07-20

  • 分类号

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾台北市士林区德行西路45号7楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-19

    授权

    授权

  • 2011-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 15/02 申请日:20100720

    实质审查的生效

  • 2011-08-24

    公开

    公开

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