首页> 中国专利> 一种基于表面等离子效应的InGaAs红外偏振探测器

一种基于表面等离子效应的InGaAs红外偏振探测器

摘要

本发明公开了一种基于表面等离子效应的InGaAs红外偏振探测器包括:衬底和在所述衬底自下而上依次沉积的下掺杂层、吸收层、上掺杂层和金属光栅层,所述金属光栅层为二维周期性亚波长非对称结构光栅,用于接收入射光波;所述吸收层用于吸收光波;所述下掺杂层和所述上掺杂层用于引出所述红外偏振探测器的两个电极。本发明采用二维的周期性非对称结构金属光栅,可以与探测的光波发生耦合,激发表面等离子体效应,表面等离子体效应能将光场局域化在金属和半导体附近,可以提高探测器效率;同时非对称的光栅结构在不同偏振方向入射光照射下产生的电磁振荡强度不同,可以实现偏振光探测。

著录项

  • 公开/公告号CN106784120A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201611125951.7

  • 申请日2016-12-08

  • 分类号H01L31/105;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-06-19 02:20:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L31/105 申请公布日:20170531 申请日:20161208

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/105 申请日:20161208

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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