首页> 中国专利> 基于数字散斑干涉的变形及斜率同步测量装置及测量方法

基于数字散斑干涉的变形及斜率同步测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种基于数字散斑干涉的变形及斜率同步测量装置及测量方法,激光器出射光被分光棱镜分为第一束光和第二束光;第一束光经另一分光棱镜反射到单色CCD相机成像靶面上,构成参考光路;第二束光经平面镜反射照射在被测物体表面,形成激光散斑场,单色CCD相机从与光轴对称的双方向同时接收激光散斑场,构成两个物光路;通过切换参考光路和物光路的开闭,形成同步测量的数字散斑干涉光路和剪切数字散斑干涉光路,提取散斑干涉条纹相位和剪切散斑干涉条纹相位,测得被测物体表面变形和斜率。本发明实现了被测物体变形及其斜率信息的同步、独立测量,无需重复加载和后期分离;采用相移技术,提高测量精度;构建测量灵敏度可调且物光共用的散斑干涉双光路,使系统整体结构简单、紧凑。

著录项

  • 公开/公告号CN106403836A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 盐城工学院;

    申请/专利号CN201611149902.7

  • 发明设计人 顾国庆;佘斌;孔海陵;王路珍;

    申请日2016-12-14

  • 分类号G01B11/16(20060101);G01B11/26(20060101);

  • 代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人徐莹

  • 地址 224055 江苏省盐城市世纪大道1166号研创大厦

  • 入库时间 2023-06-19 01:35:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/16 申请日:20161214

    实质审查的生效

  • 2017-02-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号