一种基于暗场均值信号的图像传感器关键参数测试方法

摘要

本发明属于电子元器件测试技术领域，具体涉及一种遵循EMVA Standard 1288标准并利用遗传算法反演图像传感器关键参数的基于暗场均值信号的图像传感器关键参数测试方法。本发明包括：在暗场条件下对图像传感器进行曝光操作；将图像传感器的系统增益；设定遗传算法中染色体个体适应度函数；按照遗传算法的进化流程得出图像传感器系统增益、暗电流的最优估计值。本发明提供了一种基于暗场条件的图像传感器关键参数的测试方法，简单易行。该发明方法也适用于图像传感器在环境变化条件下的测试。