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用于氮化物生长的具有双缓冲层的外延片的制备方法

摘要

用于氮化物生长的具有双缓冲层的外延片的制备方法,涉及半导体光电子器件制造领域,本发明首先利用有机化学气相沉积法(MOCVD)在衬底上原位生长AlxIn1‑xN层,形成第一缓冲层,可通过调配AlxIn1‑xN缓冲层原子组分,改良溅射式AlN缓冲层的应力,同时对AlN第二缓冲层产生一定张应力,调配AlN第二缓冲层与后续氮化物生长之间的晶格失配度,降低材料生长之间的应力,减少材料间的应力累积,改善材料生长的均一性,从而改善氮化物晶体质量。

著录项

  • 公开/公告号CN106206892A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 扬州中科半导体照明有限公司;

    申请/专利号CN201610747324.0

  • 申请日2016-08-29

  • 分类号H01L33/12;H01L33/00;H01L21/203;H01L21/205;C23C16/44;C23C14/22;

  • 代理机构扬州市锦江专利事务所;

  • 代理人江平

  • 地址 225009 江苏省扬州市开发区临江路186号

  • 入库时间 2023-06-19 01:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L33/12 申请公布日:20161207 申请日:20160829

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/12 申请日:20160829

    实质审查的生效

  • 2016-12-07

    公开

    公开

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