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电容数值更大的深沟槽硅电容的制作方法

摘要

本发明公开了一种电容数值更大的深沟槽硅电容的制作方法,包括以下步骤:在硅衬底上表面生长一层第一硅氧化物;在第一硅氧化物上表面覆盖一层光刻胶;之后进行光刻过程,在光刻胶上刻蚀出电容沟槽的开口;使用湿法刻蚀的方法进行刻蚀过程,生成电容沟槽;对沟槽进行重掺杂过程,形成重掺杂硅;在重掺杂硅上生长第二硅氧化物;在第二硅氧化物之上、电容沟槽中,生长多晶硅。在相同的沟槽深度下,本发明所述的方法制作出来的电容结构,电容面积大于现有技术,由基本的电路的原理中的电容定义可知,本发明的电容数值更大。

著录项

  • 公开/公告号CN105957902A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡宏纳科技有限公司;

    申请/专利号CN201610571751.8

  • 发明设计人 吕耀安;

    申请日2016-07-20

  • 分类号

  • 代理机构无锡华源专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人聂汉钦

  • 地址 214000 江苏省无锡市新区清源路20号太湖国际科技园传感网大学科技园立业楼D区一楼

  • 入库时间 2023-06-19 00:31:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-05

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):H01L29/92 申请公布日:20160921 申请日:20160720

    发明专利申请公布后的撤回

  • 2016-10-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/92 申请日:20160720

    实质审查的生效

  • 2016-09-21

    公开

    公开

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