公开/公告号CN105740594A
专利类型发明专利
公开/公告日2016-07-06
原文格式PDF
申请/专利权人 上海宇航系统工程研究所;
申请/专利号CN201410743764.X
申请日2014-12-09
分类号G06F19/00;
代理机构上海航天局专利中心;
代理人冯和纯
地址 201109 上海市闵行区元江路3888号
入库时间 2023-06-19 00:02:20
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-08-14
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F19/00 申请公布日:20160706 申请日:20141209
发明专利申请公布后的视为撤回
2016-08-03
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20141209
实质审查的生效
2016-07-06
公开
公开
机译: 用于成像系统的红外辐射检测装置的生产工艺,涉及在载体基板上同时形成有源和无源微辐射热计,并在无源微辐射热计上形成反射屏
机译: 用于检测红外辐射的装置,包括成像电阻测辐射热计,包括这种测辐射热计的阵列的系统以及读取集成在这种系统中的成像测辐射热计的方法
机译: 用于检测红外辐射的设备包括电阻式成像测辐射热仪,包括测辐射热仪阵列的系统以及用于读取集成到系统中的成像测辐射热仪的方法