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使用高中性密度等离子体植入的共形掺杂

摘要

一种等离子体掺杂设备包括等离子体源,所述等离子体源产生脉冲的等离子体。压板接近等离子体源而支撑基板以供等离子体掺杂。结构吸附薄膜,所述薄膜在被解吸附时提供多个中性。偏压电源产生偏压波形,所述偏压波形具有将等离子体中的离子吸引至基板以供等离子体掺杂的负电位。辐射源照射吸附在结构上的薄膜,藉此解吸附薄膜且产生多个中性,所述多个中性在来自等离子体的离子被吸引至基板时使离子散射,藉此执行共形等离子体掺杂。

著录项

  • 公开/公告号CN101765679B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 瓦里安半导体设备公司;

    申请/专利号CN200880100529.3

  • 发明设计人 史帝文·R·沃特;

    申请日2008-06-20

  • 分类号

  • 代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人臧建明

  • 地址 美国麻萨诸塞州

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 16/00 授权公告日:20130109 终止日期:20140620 申请日:20080620

    专利权的终止

  • 2013-01-09

    授权

    授权

  • 2010-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/00 申请日:20080620

    实质审查的生效

  • 2010-06-30

    公开

    公开

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