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一种半导体硅片化学机械抛光清洗液

摘要

本发明公开了一种半导体硅片化学机械抛光清洗液,按照重量份的原料包括:有机酸5-20份、表面活性剂0.2-1份、光亮剂0.1-1份、pH调节剂1-10份、氧化剂0.01-0.1份、稳定剂0.1-1份、抑制剂0.1-1份、去离子水20-30份、研磨剂2-8份。所述有机酸选自柠檬酸和柠檬酸氢二铵中的一种或几种。所述清洗液的pH值为9.5~11.5。所述的表面活性剂是聚醚表面活性剂。所述研磨剂为二氧化硅。本发明能降低清洗剂的表面张力,可以快速剥离掉表面污染物,有效清洗硅片表面,降低硅表面粗糙度;抑制金属杂质对硅片的污染,能减少氧化物的沉淀;成本低,对环境无污染,可彻底清洗污染物;有效根除了移动金属离子的扩散,提高了芯片的可靠性,提高了生产的良率。

著录项

  • 公开/公告号CN105505230A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 章建群;

    申请/专利号CN201610086891.6

  • 申请日2016-02-16

  • 分类号C09G1/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 330000 江西省南昌市西湖区慧园街2号1单元501室

  • 入库时间 2023-12-18 15:33:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C09G1/02 申请公布日:20160420 申请日:20160216

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):C09G1/02 申请日:20160216

    实质审查的生效

  • 2016-04-20

    公开

    公开

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