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CMP中碱性抛光液抑制GLSI铜钴阻挡层电偶腐蚀的应用

摘要

本发明涉及一种CMP中碱性抛光液抑制GLSI铜钴阻挡层电偶腐蚀的应用,主要由水溶胶、FA/0?Ⅰ型鳌合剂、pH无机酸调节剂和复合型非离子活性剂组成的碱性抛光液,其特征是:所述复合型非离子活性剂为FA/0?Ⅰ型表面活性剂,所述FA/0?Ⅰ型表面活性剂抑制铜互连Co阻挡层的Co与Cu之间电偶腐蚀的应用。有益效果:本发明采用在碱性抛光液基础上添加复合型非离子活性剂,使得Co与Cu之间的电位差几乎为零,且界面应力得到了有效控制,CMP中应用碱性抛光液的FA/0?Ⅰ型表面活性剂使得Co与Cu之间的电偶腐蚀得到了很好的抑制。

著录项

  • 公开/公告号CN105419651A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津晶岭微电子材料有限公司;

    申请/专利号CN201511000051.5

  • 发明设计人 刘玉岭;潘辉;高宝红;

    申请日2015-12-25

  • 分类号C09G1/16;H01L21/306;

  • 代理机构天津市三利专利商标代理有限公司;

  • 代理人杨红

  • 地址 300130 天津市滨海新区华苑产业区科馨公寓20门501-5室

  • 入库时间 2023-12-18 15:03:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):H01L21/306 放弃生效日:20180907 申请日:20151225

    专利权的视为放弃

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):C09G1/16 申请日:20151225

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

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