一种基于BIST的高速串行IO接口抖动容限测试方法和电路

摘要

本发明公开了一种基于BIST(内建自测试)的高速串行IO接口抖动容限测试方法和电路。该电路主要由CDR电路模块、抖动注入模块和误码检测模组成。在高速串行IO接口接收端的CDR电路中加入抖动注入模块和误码检测模块，可实现接收端抖动容限的自测试，其中抖动注入模块包含Jitter Memory、相位内插器PI和PRBS(伪随机二进制序列)电路，用于产生包含抖动信息的测试序列；误码检测模块包括序列检测器(PRBS Checker)、XOR门和误码计数器(Error Detection)，用于检测误码并得到误码数。本发明基于BIST对接收端抖动容限进行自测试，可实现不同类型的抖动注入，如RJ(随机抖动)、PJ(周期抖动)、DCD(占空比失真)等，BIST电路实现简单，有效地缩短测试时间和降低测试成本，可应用于各种类型的高速串行IO接口电路，具有较强的实用性。