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原子层沉积氮化硅膜的原位碳和氧掺杂

摘要

本文中揭露的实施方式大体上涉及衬底的处理,且更具体而言,涉及用于形成电介质膜的方法。在一实施方式中,所述方法包括:将多个衬底放置在处理腔室内部,且执行以下序列:将所述衬底暴露于包含硅的第一反应性气体,且然后将所述衬底暴露于包含氮以及氧或碳中的至少一个的第二反应性气体的等离子体,以及重复所述序列以在所述衬底的每一个上形成包含碳氮化硅或碳氮氧化硅的所述电介质膜。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/31 申请公布日:20150909 申请日:20150305

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-09-09

    公开

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