法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-02-09
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01J49/16 申请公布日:20150722 申请日:20150417
发明专利申请公布后的驳回
2015-10-14
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/16 申请日:20150417
实质审查的生效
2015-08-19
著录事项变更 IPC(主分类):H01J49/16 变更前: 变更后: 申请日:20150417
著录事项变更
2015-07-22
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 基质辅助激光解吸电离质谱的样品制备方法和基质辅助激光解吸电离质谱的样品
机译: 样品的荧光确定方法,涉及将激发光的光路和与参考光具有相同波长的参考光的光路分开的荧光