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用于减少穿通泄漏的存储器单元与阵列操作方法

摘要

本发明揭露一种用于写入存储器阵列中的第一存储器单元的方法。在特定实施例中,每一存储器单元具有漏极、源极、通道、以及上覆于电荷储存材料及通道的控制栅极。第一存储器单元的源极耦接至第二存储器单元的漏极。将一电压施加于第一存储器单元的漏极,且将第二存储器单元的源极接地。此方法包含浮动第二存储器单元的漏极及第一存储器单元的源极,并接通第一及第二存储器单元的通道,从而有效形成一扩展通道区域。将热载流子注入至第一单元的电荷储存材料以写入第一存储器单元。扩展通道降低电场并减少未选定存储器单元中的穿通泄漏。

著录项

  • 公开/公告号CN101640067B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200810170461.8

  • 发明设计人 张力禾;蔡文哲;欧天凡;黄竣祥;

    申请日2008-11-06

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-12

    授权

    授权

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-02-03

    公开

    公开

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