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引线框架类封装零分层方法

摘要

引线框架类封装零分层方法涉及一种引线框架类封装零分层方法的改进。本发明提供一种结构简单、合理且可靠性强的引线框架类封装零分层方法。本发明采用如下技术方案,1、粘晶粒制程管控:粘晶粒主要的问题是银浆污染;首先要选择扩散较小的胶水,然后要控制出胶量,不能超出芯片太多;2、焊线的制程管控:打开压板,使引线框架离开加热块来暂停加热;停机1分钟即自动打开加热块;3、去胶去纬制程管控:去胶去纬通常是最容易造成分层的制程,因为这是封装厂中唯一的湿制程,会带来水汽和电化学作用;水汽会侵入封装体,而电化学作用会加速这种侵蚀;对于露基岛的产品不可以使用电解去胶;这些会减缓水汽对封装体的侵蚀。

著录项

  • 公开/公告号CN104658922A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 惠铁军;

    申请/专利号CN201310601545.3

  • 发明设计人 惠铁军;

    申请日2013-11-25

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 110180 辽宁省沈阳市浑南新区三义街6-1号天水e城1510沈阳信达宏业科技有限公司

  • 入库时间 2023-12-18 08:59:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/50 申请公布日:20150527 申请日:20131125

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-05-27

    公开

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