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一种高可靠性P型碳化硅纵向金属氧化物半导体管

摘要

一种高可靠性P型碳化硅纵向金属氧化物半导体管,所述高可靠性P型碳化硅纵向金属氧化物半导体管为轴对称结构,包括:P型衬底,在P型衬底的一侧连接有漏极金属,在P型衬底的另一侧设有P型漂移区,在P型漂移区中对称设置一对N型基区,在N型基区中设有P型源区和N型体接触区,在P型漂移区的表面设有绝缘层,在绝缘层的表面设有多晶硅栅,在多晶硅栅及P型源区上设有场氧化层,在P型源区和N型体接触区连接有源极金属,其特征在于所述的绝缘层采用多阶栅氧化层结构,整体呈对称的多级“台阶”状,这种结构的优点在于保持器件击穿电压和导通电阻等其他电学参数基本不变的前提下,显著提高器件的UIS能力和可靠性,延长器件的使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN104600121A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东南大学;

    申请/专利号CN201510021785.5

  • 申请日2015-01-15

  • 分类号H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;

  • 代理机构江苏永衡昭辉律师事务所;

  • 代理人王斌

  • 地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道99号

  • 入库时间 2023-12-18 08:35:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L29/78 申请公布日:20150506 申请日:20150115

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20150115

    实质审查的生效

  • 2015-05-06

    公开

    公开

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