一种用于快速检测灾难性故障的锁相环内建测试结构

摘要

本发明公开了一种用于快速检测灾难性故障的锁相环内建测试结构，包括三个延迟单元、两个模式设置单元和一个测试评估单元。其中延迟单元用于实现将参考信号进行不同的延时，以提供灾难性故障测试所需的充放电测试信号。模式设置单元用于设置整个电路的工作模式，即正常工作模式，充电故障测试模式和放电故障测试模式。测试评估单元用于扫描待测锁相环中分频器的输出信号，并以数字形式输出，作为判断锁相环是否存在灾难性故障的依据。本发明提供的用于快速检测灾难性故障的锁相环内建测试结构，具有测试结构简单、测试时间快、测试成本低的特点。