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基于最小偏向角法测量低温下材料折射率温度系数的装置

摘要

本发明提供一种基于最小偏向角法测量低温下材料折射率温度系数的装置,该装置包括准直光源系统,分光镜,瞄准系统,低温真空仓及其附属低温真空系统、样品仓、旋转反射镜、电控旋转台和编码器。其中样品仓、旋转反射镜分别由电机驱动,置于低温真空仓中。测量时,由准直光源出射的准单色平行光束,经过分光镜折射后入射到低温真空仓,旋转调整三棱镜和编码器上反射镜的放置角度,找到最小偏向角的位置,在此状态下光束垂直入射旋转反射镜后最终返回到分光反镜,反射后进入瞄准系统。本发明对传统最小偏向角法进行了改进,创新地将自准直原理和最小偏向角法结合起来,在同等测量精度范围内降低了对轴角编码器高精度的要求,从而降低了系统成本。

著录项

  • 公开/公告号CN102788767A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201210304146.6

  • 发明设计人 倪磊;廖胜;任栖峰;段沽坪;

    申请日2012-08-24

  • 分类号G01N21/41;

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2023-12-18 07:21:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/41 申请公布日:20121121 申请日:20120824

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-01-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/41 申请日:20120824

    实质审查的生效

  • 2012-11-21

    公开

    公开

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